Εργαλεία οπτικών ινών FTTH FTTX και ενιαίος ευθυγραμμιστής πυρήνων εξοπλισμού

a) Υιοθετήστε την υψηλής ποιότητας ράγα οδηγών, το κεραμικό β-αυλάκι ακρίβεια-κατηγορίας και την επικεφαλής, χαμηλή απώλεια συναρμογών, και την καλή συνέπεια.
β) μικρό μέγεθος, ελαφρύς, εύκολο να λειτουργήσει.

Εφαρμόσιμη ίνα: ίνες 250μm και 900μm διάμετρος ντυμένος-ινών: 125μm
Απώλεια συναρμογών: Για 160A, η απώλεια συναρμογών είναι όχι περισσότερο από 0.05dB για 160F, απώλεια όχι περισσότερο από 0.03dB συναρμογών

1. Ανοίξτε την πηγή φωτός και το όργανο δοκιμής που 30 λεπτά εκ των προτέρων, κατόπιν συνδέουν τις δύο συσκευές με τη γυμνή ίνα, και επαναρυθμίζουν το όργανο δοκιμής σε μηδέν.
2. Αφαιρέστε τη γυμνή ίνα που χρησιμοποιείται για την αναστοιχειοθέτηση, γυρίστε το εξόγκωμα για να ρυθμίσετε δεξιόστροφα το κινητό τέλος του ευθυγραμμιστή στον απώτατο
θέση.
3. Συνδέστε το κεφάλι FC της δοκιμασμένης πλεξίδας με τον ελεγκτή, και στερεώστε το άλλο τέλος με ένα προσάρτημα ενιαίος-πυρήνων. Υιοθετήστε τις γδύνοντας πένσες, καθαρίστε τη γυμνή ίνα και τον τυποποιημένο κόπτη με τη σειρά. Μετά από την κοπή, το τοποθετήστε στο σταθερό τέλος (αριστερό τέλος)
ο ευθυγραμμιστής ινών ενιαίος-πυρήνων, και παρεμβάλλει τη γυμνή ίνα ακριβώς στο αυλάκι Β.
4. Στερεώστε την ενιαία ίνα της συσκευής υπό δοκιμή με ένα προσάρτημα ενιαίος-πυρήνων, υιοθετήστε stripper, καθαρίστε τη γυμνή ίνα και
ο τυποποιημένος κόπτης, μετά από την κοπή, το τοποθετεί στο κινητό τέλος (σωστό τέλος) του ευθυγραμμιστή ινών ενιαίος-πυρήνων, και παρεμβάλλει το γυμνό
ίνα ακριβώς στο αυλάκι Β. Η πτώση λίγο που ταιριάζει με το υγρό στη μέση του αυλακιού Β, και κλείνει έπειτα τον ανώτερο
πιάτο κάλυψης. Σημείωση: Βήματα 3) και 4) απαιτήστε να κόψετε τη οπτική ίνα σε έναν καθορισμένου μήκους, διαφορετικά τα στοιχεία δοκιμής μπορούν να είναι
ασταθής.
5. Γυρίστε το εξόγκωμα αντίθετα προς τη φορά των δεικτων του ρολογιού, επιτρέποντας στο κινητό τέλος για να κινηθεί ελεύθερα για να συνδέσει αυτόματα τη οπτική ίνα στο Vgroove, και παρατηρήστε έπειτα το όργανο δοκιμής για να επιθεωρήσετε κάθε δείκτη της δοκιμασμένης συσκευής.